X-Strata920表面鍍層測厚儀
是一款簡(jiǎn)潔、堅固和可靠的質(zhì)量控制XRF臺式熒光系統，用于簡(jiǎn)便、快速的鍍層厚度測試和材料分析。
功能特性：
成本低、快速、非破壞的EDXRF分析
可完成至多4層鍍層（另加底材）和25個(gè)元素的鍍層厚度測試，自動(dòng)修正X射線(xiàn)重疊譜線(xiàn)
卓越的多元素辨識，廣泛覆蓋元素表上從鈦（原子序數22號）到鈾（92號）各元素
測厚行業(yè)35年知識和經(jīng)驗的積淀
元素范圍 Ti22 to U92
鍍層和元素數量 4 層鍍層 + 底材可同時(shí)分析至多25種元素
X-ray激發(fā) 50 W (50kV, 1mA) 微聚焦型鎢靶X射線(xiàn)管
X-ray探測器 封氣（氙氣）正比計數器
準直器 單準直器或多準直器（最多6個(gè)） ，圓形、正方形和矩形可選
二次濾波器 可配置至多3個(gè)濾波器（V、Co和Ni）用于重疊X射線(xiàn)波譜校正
數字信號處理器 4096多通道數字分析器 自動(dòng)信號處理，帶死時(shí)間修正及防脈沖累積功能
軟件 SmartLink
FP語(yǔ)言：英語(yǔ)、中文（簡(jiǎn)體和繁體）、法語(yǔ)、德語(yǔ)、西班牙語(yǔ)、日語(yǔ)、韓語(yǔ)、
意大利語(yǔ)、捷克語(yǔ)和俄語(yǔ)
計算機 CPU：Intel Core 2 Duo E7500 2.93GHz
硬盤(pán)： 500Gb，內存：2Gb
DVDRW
操作系統：Microsoft WindowsTM
注：由于計算機系統更新快速，實(shí)際配置等同或優(yōu)于上述規格
電源 85~130 或 215~265 伏特，頻率范圍47Hz到63Hz
工作環(huán)境 10°C (50°F) 至 40°C (104°F)，相對濕度98%，無(wú)冷凝
可選配置 標準樣品臺（最大樣品高度 33mm / 1.3”）
加深式樣品臺（最大樣品高度 160mm / 6.3”）
XY 程控樣品臺（樣品臺移動(dòng)行程：178mm x 178mm / 7” x 7”）
各樣品臺Z向移動(dòng)行程：43mm (1.7”)
均為開(kāi)槽式樣品臺
尺寸（寬 x 長(cháng) x 高） 標準樣品臺：407 x 770 x 305 mm (16 x 30.3 x 12")
加深式樣品臺：407 x 770 x 400 mm (16 x 30.3 x 15.7")
XY 程控樣品臺：610 x 1037 x 375 mm (24 x 40.8 x 14.8“)
注：以上尺寸均不包含計算機和顯示器
重量 97kg（不包含計算機和顯示器）
應用于常規金屬處理、電子元器件制造和金屬測定（如珠寶鑒定）等行業(yè)，完成單層或多層厚度測量。
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